法萊寶熱流儀Dragon能進行快速的升降溫，進而模擬極限的溫度環境，對零部件進行熱沖擊。Dragon采用空冷控溫模式，溫度范圍可從-72℃至(zhi)+225℃之間進行超長連續(xu)控溫。如(ru)下圖1所示，熱流儀Dragon正在(zai)(zai)對電(dian)容(rong)器進行測試，將電(dian)容(rong)器安裝在(zai)(zai)電(dian)子(zi)器件(jian)上，通入穩定輸(shu)出的(de)直流電(dian)，并在(zai)(zai)輸(shu)出端產生很小(xiao)的(de)噪聲（波紋），其(qi)測試目的(de)是驗證電(dian)容(rong)器在(zai)(zai)極端溫(wen)度下能否正常運行。

圖1 鉭電容(rong)器測試(shi)—新型Dragon熱流儀

通常，測試(shi)(shi)條件為在-55℃至+85℃之間對電(dian)容器進行(xing)(xing)10次循環充電(dian)和放電(dian)（極限測試(shi)(shi)高(gao)溫可調至+125℃或+200℃，可根據不同的應用進行(xing)(xing)調整）。電(dian)子組件(jian)電(dian)路(lu)(lu)開(kai)關(guan)示意圖(tu)如下(xia)圖(tu)2所示，當機械開(kai)關(guan)1閉合(he)時(shi)，向電(dian)容器(qi)施加一定的電(dian)壓，該電(dian)路(lu)(lu)視為短路(lu)(lu)，因而電(dian)流(liu)值很大；電(dian)容器(qi)處(chu)于充電(dian)狀(zhuang)態，電(dian)流(liu)值幾(ji)(ji)乎(hu)為零(ling)(ling)。當開(kai)關(guan)2閉合(he)時(shi)，電(dian)路(lu)(lu)電(dian)壓為0V，此時(shi)電(dian)容器(qi)處(chu)于放電(dian)狀(zhuang)態，直(zhi)至電(dian)流(liu)幾(ji)(ji)乎(hu)為零(ling)(ling)。

圖2 檢測(ce)中的(de)電子組件(jian)

通過10次(ci)循(xun)環充電(dian)(dian)和放電(dian)(dian)后，對(dui)每個電(dian)(dian)容器進行漏電(dian)(dian)流檢測，考察溫度變化對(dui)其的(de)影響。

圖4顯示(shi)為電容器(qi)完全充電至其額(e)定電流(liu)（Ur）時通過電容器(qi)的剩余電流(liu)值（I），每次充電后5min內開(kai)始監測，單(dan)位μA。漏電流相當(dang)于電容器的(de)絕緣電阻，因(yin)此必須(xu)盡可能低。泄(xie)漏(lou)電(dian)流值(zhi)(zhi)(zhi)是電(dian)容值(zhi)(zhi)(zhi)和電(dian)阻值(zhi)(zhi)(zhi)的(de)函數，下圖5記錄(lu)了(le)漏(lou)電(dian)流值(zhi)(zhi)(zhi)隨溫度的(de)變(bian)化。

（20℃時(shi)）

如下圖6和圖7所(suo)示(shi)，在(zai)短(duan)時(shi)間內漏電(dian)(dian)流值(zhi)幾乎為零的電(dian)(dian)容器件可通過失(shi)效分析(xi)試驗；而隨著外界溫(wen)度變(bian)化導致漏電流值產生(sheng)極**動的電容器視為(wei)失效組件，并在失效后容易引起爆(bao)裂(lie)燃燒。

圖6. 電(dian)容器的漏電(dian)流隨時間變化圖