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能一口氣從-70℃飆到150℃的SSD固態硬盤高低溫老化試驗設備長啥樣？

能一口氣(qi)從【 -70℃ 飆(biao)到 150℃ 】的SSD固(gu)態硬(ying)盤高低(di)溫老(lao)化(hua)試驗箱長啥樣？ 
一(yi)款SSD在正(zheng)式進(jin)(jin)入(ru)市(shi)場前必(bi)然(ran)會經過多種(zhong)測試(shi)，其中就有老(lao)化測試(shi)和高溫測試(shi)，這兩項測試(shi)對芯片(pian)的(de)質量和可靠性要(yao)求非(fei)常(chang)嚴(yan)苛，畢竟(jing)事關數據存儲的(de)安(an)全，測試(shi)到位才能保證產品以(yi)優質的(de)性能進(jin)(jin)入(ru)市(shi)場。
但我們參觀了那么多(duo)固態(tai)生產(chan)工廠后，發現很多(duo)工廠這兩個測試環節的(de)現狀是這樣(yang)的(de)！
-老化(hua)測(ce)試和高溫測(ce)試單獨分(fen)開(kai)進行，測(ce)試總耗時較長；
-測試(shi)環境用設備(bei)模擬創造；
-一些嚴苛(ke)的(de)條件(jian)，例如工控產品測(ce)試(shi)需(xu)要的(de)嚴苛(ke)溫(wen)度、或者處(chu)于一定濕度和壓(ya)力(li)下(xia)的(de)測(ce)試(shi)環境，當(dang)前多(duo)數工廠的(de)設備(bei)都無法滿(man)足；
總的來(lai)說問(wen)題就是產品測(ce)試時(shi)間長，測(ce)試環(huan)境不夠(gou)全面，從而導致交貨期延長和產品返修率增加(jia)。那有沒有什么辦法可以一口(kou)氣解決這些問(wen)題呢？
1、設備性(xing)能(neng)
在定制化的SSD專用SSD固(gu)態硬盤高低溫(wen)老(lao)(lao)化試(shi)驗箱內，老(lao)(lao)化測(ce)(ce)試(shi)、恒溫(wen)測(ce)(ce)試(shi)或(huo)者高低溫(wen)交叉(cha)測(ce)(ce)試(shi)可以同時進行；
測試(shi)溫度標準(zhun)可達到(dao)工業級別，最高溫度達到(dao)150℃，最低達到(dao)負70℃，溫度調節(jie)程(cheng)序(xu)自動化；
溫度變化過程中，還(huan)會形成水汽，可創造嚴苛的(de)測試環(huan)境條件。
2、強大(da)作用
被測(ce)產品被置于(yu)嚴苛的溫度、濕(shi)度及壓力下(xia)測(ce)試(shi)，會加速(su)老(lao)化壽命試(shi)驗，整(zheng)體縮(suo)短產品壽命試(shi)驗時間；
可檢測產品電子元器(qi)件的封裝的密封性和耐壓性，從而判斷產品的環境適應力(li)和工作壓力(li)適應力(li)！
定制化的(de)內(nei)箱構(gou)造，保證產品在試驗過程中溫度濕(shi)度壓力是(shi)均衡的(de)！
最(zui)關(guan)鍵(jian)的是，整個設備電路整合設計，操(cao)作簡單，維護方(fang)便。

很多固態(tai)產品(pin)的(de)生產企業對(dui)于測(ce)試(shi)這一個板塊非(fei)常(chang)重視也非(fei)常(chang)頭疼(teng)，一方面是(shi)因為測(ce)試(shi)時(shi)間長，另(ling)一方面是(shi)測(ce)試(shi)工作是(shi)產品(pin)良(liang)率和(he)返(fan)修率的(de)保證。這個時(shi)候一臺(tai)高效(xiao)且靠譜的(de)測(ce)試(shi)設備(bei)就(jiu)顯得尤為重要了！



LabCompanion宏(hong)展儀器高性能SSD固態硬盤高低溫老化試(shi)驗驗證解決方案

隨著科學技術的不斷創新(xin)，SSD固(gu)(gu)態硬(ying)(ying)盤技術也在(zai)日(ri)益(yi)更(geng)新(xin)，SSD固(gu)(gu)態硬(ying)(ying)盤行業的可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗的需(xu)求日(ri)益(yi)提高(gao)(gao)。針對SSD固(gu)(gu)態硬(ying)(ying)盤、半導體及電子元器件(jian)的高(gao)(gao)發熱、高(gao)(gao)負(fu)載的試(shi)驗需(xu)求，LabCompanion宏展儀器開發了SSD高(gao)(gao)性(xing)能高(gao)(gao)低溫(wen)（濕(shi)熱）試(shi)驗箱，既可(ke)(ke)以實現(xian)更(geng)快(kuai)的溫(wen)度升降速率，又能對應容許(xu)最大(da)發熱負(fu)荷高(gao)(gao)至4500W的高(gao)(gao)負(fu)載發熱可(ke)(ke)靠(kao)性(xing)試(shi)驗。



主要特征：
可實現(xian)更(geng)高(gao)性(xing)能
  與普通(tong)溫(wen)(wen)濕箱(xiang)相比，擁有(you)更快(kuai)的溫(wen)(wen)度升(sheng)降速(su)率：升(sheng)溫(wen)(wen)速(su)率：7℃/min，降溫(wen)(wen)速(su)率：3~5℃/min。濕度范圍：20%～98RH。
對(dui)應高發熱 高負載試驗
  容(rong)許最(zui)大發熱負荷(he)高至4500W，適合SSD固態硬盤、半導(dao)體、車載零件相關(guan)電子元器件的高負載發熱可靠性試(shi)驗。
方便(bian)改造，功能拓展性強
  ;結構上更容易進行(xing)(xing)改造，如(ru)上方可進行(xing)(xing)上下疊放改造；左(zuo)右側可進行(xing)(xing)并柜改造。
  更容易進行提高性能的相關改(gai)造。
  平衡調溫調濕控制系統（BTHC），雙PID及水蒸氣(qi)分(fen)壓控制，技術成熟、精(jing)度極高。
產品綠(lv)色(se)環(huan)保、省(sheng)耗節能(neng)。
通過接(jie)口(kou)可進(jin)行網絡(luo)控制(zhi)及數(shu)據采集（RS-485/GPIB/Web Lan/RS-232C）。
標配左右電纜孔(kong)（50mm），便于試樣通電連線、進行多項測(ce)量。
控制器(qi)采用彩色LCD觸(chu)摸屏，操作簡單方便(bian)
  通過控制器可(ke)選擇定值和程(cheng)序(xu)兩種控制適應不同(tong)應用。
  程序控制(zhi)可設置(zhi)100個模(mo)式，每個模(mo)式設定99步驟(zou)。重復循環最大999次。
  多種語言(yan)輕松(song)切換(huan)（簡體中文、英(ying)語）、試驗數據(ju)U盤(pan)存儲。
可追(zhui)加多種選購件，滿足客戶多樣需求。
  可追加泄壓閥(fa)、煙霧傳感(gan)器、急停開(kai)關、報警(jing)輸出端(duan)子(zi)、三色燈等(deng)安全選購件。

標配風冷規(gui)格，方便產品的移動與安裝。

產品名稱 型號 溫度范圍 濕度控制 濕度范圍 內容積 內尺寸(W×H×Dmm) 外尺寸（WxHxDmm）
SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱 PL-408-SSD －40℃～＋180℃ YES 20%～98%rh 400L 600×850×800 800×1753×2167
SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱 PL-1000-SSD －40℃～＋180℃ YES 20%～98%rh 980L 1000×1000×1000 1200×1903×2400
SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱 PS-408-SSD －70℃～＋180℃ YES 20%～98%rh 400L 600×850×800 800×1753×2167
SSD固態硬盤高低溫老化試驗箱 PS-1000-SSD －70℃～＋180℃ YES 20%～98%rh 980L 1000×1000×1000 1200×1903×2400

※1 溫(wen)度(du)箱按照(zhao)GB/T5170.2,IEC60068-3-5及(ji)濕度(du)箱按照(zhao)GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規(gui)定，環境溫(wen)度(du)＋23℃、相(xiang)對濕度(du)65±20%rh、額定電壓(ya)、無試(shi)樣時。環境溫(wen)度(du)高于23℃時有時候達不到最低溫(wen)度(du)。以GB/T5170.2-2008規(gui)則(ze)表示。
※2 箱內溫度是＋20℃。
※3 該升降溫速率為去掉總溫度區間的(de)前后10%的(de)升降溫速率的(de)值。