美國 inTEST 高低溫測試(shi)機(ji) (熱流儀) ATS-710-M 溫度沖擊范圍(wei): -80°C 至 +225°C;
溫度轉換速率
加熱(re): -55至+ 125°C, <10秒
冷卻: +125至-55°C, <10秒(miao)
觸摸屏(ping)式控制面板(ban), 防靜電設計, 具備自(zi)動除霜功能.
電源要求: 200-250 VAC（230V標稱(cheng)）50 / 60Hz 30 amp, 1phase
美國 inTEST 高低溫(wen)測試機 (熱流儀) ATS-710-M 無(wu)需(xu) LN2 或 LCO2 即可在低溫(wen)下進(jin)行 MIL-STD 和商業(ye)測試.
inTEST ATS-710-M 高低溫測試機(替代 TPO4300,T-2500 ) 產品優點：
美國 inTEST 高低溫測試(shi)機(ji) (熱流儀) ATS-710-M 功能特點:
1. 自動升降(jiang)溫: 冷(leng)凍機(ji)(Chiller)特殊設計, 制冷(leng)劑(ji)不含(han)氟利昂、安全無毒、不易燃, 有效保護環境;
2. 不需要液態氮氣（LN2）或液態二氧化碳（LCO2）冷卻
3. 預防結霜: 干燥氣流循環吹掃(sao)測試表(biao)面, 防止水汽凝(ning)結(氣體(ti)流量0.5至(zhi)3scfm)
4. 自動待機: 空閑或加熱模式下, inTEST 高(gao)低溫測試機自動減少(shao)能耗
5. 加熱除霜: 快(kuai)速(su)去(qu)除冷凍機內部積聚的(de)水(shui)汽
6. 觸摸(mo)屏(ping)幕(mu)控制面板(ban): Windows®; 系統
7. 溫度顯示(shi)精度: ±1℃(通過美國國家標準與(yu)技術研究(jiu)院NIST校(xiao)準)
8. 過熱溫(wen)度(du)保(bao)護: 出(chu)廠設置(zhi)溫(wen)度(du) +230°C, 操作員可根據實際需要設置(zhi)高(gao)低溫(wen)限制點.
9. 支持(chi) Ethernet, IEEE-488, RS232; 支持(chi)測試(shi)數據存儲
10. 配(pei)置 USB、鍵盤(pan)、鼠標(biao)、打印機端(duan)口
11. 熱流(liu)罩提(ti)供局(ju)限性的溫度測試(shi)環境, 特(te)別適(shi)合(he)溫度沖(chong)擊測試(shi); 專利設計防止水氣在 DUT 上凝結
與傳統高低溫測試箱、溫濕度測試箱對比, inTEST ThermoStream 高低溫測(ce)試機 (熱流儀) 主要優勢:
1. 變溫速(su)率更快
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監測待測元件真(zhen)實溫度, 可隨時調(diao)整(zheng)沖擊氣流溫度
4. 針對(dui)PCB電路板(ban)上(shang)眾(zhong)多元(yuan)器件中的某(mou)一單個 IC (模塊), 可單獨進行高低溫沖(chong)擊(ji), 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺 load board 上的 IC 進行(xing)溫度(du)循環 / 沖擊; 傳統高低溫箱無法針(zhen)對此(ci)類測試.
6. 對整塊集成電路板提供精確(que)且快速的環(huan)境溫(wen)度.
inTEST ATS-710-M 高低溫測試機(替代 TPO4300,T-2500 ) 技術參數：
上海伯東美國 inTEST 高低溫測試(shi)機 (熱流儀) ATS-710-M 技術參數:
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型(xing)號
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溫度范圍
°C
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輸出
氣流量
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變溫(wen)速(su)率
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溫度
精度
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溫度顯示
分辨率
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溫度
傳感(gan)器
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遠程
控制(zhi)
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ATS-710-M
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-75至+225 50Hz
-80至+225 60Hz
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4 至18 scfm
1.8至 8.5l/s
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-55至 +125°C 約 10 s
+125至 -55°C 約 10 s
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±1℃
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±0.1℃
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T型或
K型
熱電偶
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IEEE 488
RS232
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美國 inTEST 高低溫測(ce)試(shi)機 ATS-710-M 尺寸及重量:
尺(chi)寸: 寬(kuan)61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
重量：凈重 236 kg, 毛重 365 kg
inTEST ATS-710-M 高低溫測試機(替代 TPO4300,T-2500 ) 配置構件：
美國 inTEST 高(gao)低溫測試機 ATS-710-M (熱流儀) 配置包含：
1. 主(zhu)機 ATS-710-M
2. 4.5或5.5 英寸熱(re)流罩
3. 耐高(gao)低溫專用密封墊
* 客戶可根據實際應用選擇額(e)外軟管和(he)測試腔