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產品資料

快速溫度變化(濕熱)試驗箱

如果(guo)您對該(gai)產品感興趣(qu)的(de)話,可以(yi)
產品名稱: 快速溫度變化(濕熱)試驗箱
產品型號: TC快速(su)溫度循(xun)環試驗箱(xiang)
產品展商: Lab Companion
產品文檔: 無相關文(wen)檔

簡單介紹

Lab Companion TC系列快速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber是宏展科技的上等產品,它把產品測試帶到了一個全新的階段。高性能Platinum系列試驗箱能使箱內環境和被測產品產生快速溫度變化,從而大大減少了試驗時間,提高了試驗的工作效率。快速溫度變化也使被測產品產生了更大的應力,因而也提高了應力篩選效率。快速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber


快速溫度變化(濕熱)試驗箱  的詳細介紹

Lab Companion 快(kuai)速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber




快溫變應力篩選(xuan)試驗箱是產品在設計強度極限下,運用(yong)溫度(du)加速技巧(qiao)(在(zai)(zai)上、下限極值溫度內進行循環(huan)時,產(chan)(chan)品產(chan)(chan)生交(jiao)替膨脹和收(shou)縮(suo))改變外在(zai)(zai)環(huan)境(jing)(jing)應(ying)力(li)(li),使(shi)(shi)產(chan)(chan)品中(zhong)(zhong)產(chan)(chan)生熱應(ying)力(li)(li)和應(ying)變,透過加速應(ying)力(li)(li)來(lai)使(shi)(shi)潛存于(yu)產(chan)(chan)品的瑕(xia)疵浮現[潛在(zai)(zai)零件材料(liao)瑕(xia)疵、制程(cheng)(cheng)瑕(xia)疵、工(gong)藝瑕(xia)疵],以避免該(gai)產(chan)(chan)品于(yu)使(shi)(shi)用過程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong),受到環(huan)境(jing)(jing)應(ying)力(li)(li)的考驗時而(er)導(dao)致(zhi)失(shi)效,造成不必要的損失(shi),對于(yu)提高產(chan)(chan)品出貨良(liang)率與降低返修次數有顯著(zhu)的效果,另(ling)外應(ying)力(li)(li)篩本身是(shi)一種(zhong)制程(cheng)(cheng)階段(duan)的過程(cheng)(cheng),而(er)不是(shi)一種(zhong)可(ke)靠度試驗,所以應力篩選是100%對產品進(jin)行的程序。


對(dui)應特點:

對(dui)應 IEC規(gui)格試(shi)驗和汽車相關規(gui)格試(shi)驗。
   能夠實(shi)現在有試樣(yang)情況下,1℃~10℃的(de)斜(xie)率控制
   冷輸出節能調溫(wen)調濕控(kong)制系統,雙PID及水蒸氣分壓控(kong)制,技術成熟(shu)、精度(du)(du)極高。可實現高精度(du)(du)的(de)溫(wen)度(du)(du)控(kong)制。
   在定值運轉及(ji)程序運轉(斜率控(kong)制)中(zhong)
產品綠色環保、省耗(hao)節能。通過相關接(jie)口(kou)均可進行網絡控制(zhi)及數據(ju)采集。
   溫度運轉模式:0℃以下(xia)的運轉的話,基本(ben)可以做到只用冷凍機去達到溫度控制(Dual PID控制 )···加熱器輸出是常OFF。
可模(mo)擬(ni)汽車行走環境后零部件(jian)重復快速溫度變(bian)化
   例如:-40℃~+125℃的(de)循環等,評價其耐久性。
對應(ying)汽車零(ling)部件(jian)的(de)各種結露實驗
   溫度(du)變化率:5℃/分(fen)以(yi)上(shang)、10℃/分(fen)以(yi)上(shang)、15℃/分(fen)以(yi)上(shang)、20℃/分(fen)以(yi)上(shang)。
根據日(ri)益(yi)增(zeng)多(duo)的(de)半導(dao)體,車載電子(zi)相關電子(zi)元器件檢測需求,增(zeng)加了200L,300L小容量的(de)快溫變試(shi)驗箱(xiang)
    新型(xing)號T-200-20,T-300-20,溫(wen)度變化(hua)率:20℃/min,結構緊湊(cou),功能強大。



滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高(gao)低溫試驗(yan)箱(xiang)技術條件
GB/T 10586 -2006 濕(shi)熱試驗(yan)箱技術條件
 GB/T 2423.1-2008 電工電子(zi)產品環境試(shi)驗(yan) 第2部(bu)分(fen):試(shi)驗(yan)方法(fa) 試(shi)驗(yan)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第2部分(fen):試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法(fa) 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)B:高(gao)溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chan)品環境試(shi)驗 第(di)2部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗Cab:恒定濕熱(re)試(shi)驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子(zi)產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環)
GB/T 2423.22-2008 電(dian)工電(dian)子產品(pin)環境試(shi)驗 第2部分:試(shi)驗方法試(shi)驗N:溫(wen)度變化
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方(fang)法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備(bei)實驗(yan)室環境試驗(yan)方(fang)法第(di)3部分:高溫試驗(yan)
GJB 150.4A-2009 軍用(yong)裝備(bei)實(shi)驗(yan)室環境試驗(yan)方法(fa)第(di)4部(bu)分(fen):低溫試驗(yan)
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huan)境試(shi)驗方(fang)法(fa)第9部分:濕(shi)熱(re)試(shi)驗



主要技術指標(biao)


產(chan)品(pin)名稱 型號(hao) 溫度范圍 濕度控制 濕度范圍 內容積 內尺寸(W×H×Dmm) 外尺寸(W×H×Dmm)※3 升降溫速率※4
快速溫度變化(hua)(濕熱)試驗箱(xiang) C-200--70-20 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 200L 600 x 830 x 400 800 x 1703 x 1800 18 K/min.
快速溫度變化(濕(shi)熱(re))試驗(yan)箱(xiang) C-300--70-20 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 300L 600 x 830 x 600 800 x 1703 x 2000 18 K/min.
快速溫度(du)變化(hua)(濕熱)試驗箱 C-400--70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 10 K/min.
快速溫度變化(hua)(濕熱)試(shi)驗(yan)箱 C-400--70-15 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 15 K/min.
快速溫度變化(濕(shi)熱)試(shi)驗箱 C-800-70-5 -70℃~+180℃ YES 15%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 5 K/min.
快速溫(wen)度變(bian)化(濕熱)試驗箱 C-800-70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 10 K/min.
快速(su)溫(wen)度變化(hua)(濕熱)試驗箱 C-800-70-15 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 15 K/min.
快(kuai)速溫(wen)度變化(濕熱)試驗箱 C-800-70-20 -70℃~+180℃ YES 20%~98%rh 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1910 x 2930 20 K/min.
快速溫度變化(濕熱)試(shi)驗箱 C-1000-70-5 -70℃~+180℃ YES 15%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 5 K/min.
快速溫(wen)度變化(濕熱)試驗箱 C-1000-70-10 -70℃~+180℃ YES 10%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 10 K/min.
快速溫度變化(濕熱)試(shi)驗箱 C-1000-70-15 -70℃~+180℃ YES 20%~98%rh 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1910 x 3130 15 K/min.
快速溫度變化試(shi)驗箱 T-200-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 200L 600 x 830 x 400 800 x 1703 x 1800 20 K/min.
快速溫度變化試驗箱 T-300-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 300L 600 x 830 x 600 800 x 1703 x 2000 18 K/min.
快速溫(wen)度變化試驗箱(xiang) T-400-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 10 K/min.
快(kuai)速溫(wen)度變化試驗(yan)箱 T-400-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 400L 600 x 830 x 800 800 x 1703 x 2200 15 K/min.
快速溫度變化(hua)試(shi)驗箱 T-800-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 10 K/min.
快速溫度變化試驗箱 T-800-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1853 x 2200 15 K/min.
快速溫(wen)度(du)變化試(shi)驗箱 T-800-70-20 -70℃~+180℃ NO —— 784L 1000 x 980 x 800 1200 x 1910 x 2930 20 K/min.
快速溫(wen)度變化(hua)試驗箱 T-1000-70-10 -70℃~+180℃ NO —— 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1853 x 2400 10 K/min.
快(kuai)速溫度(du)變化試驗箱 T-1000-70-15 -70℃~+180℃ NO —— 980L 1000 x 980 x 1000 1200 x 1910 x 3130 15 K/min.

※1 溫度箱按(an)照(zhao)GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕(shi)度箱按(an)照(zhao)GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定,環(huan)境溫度+23℃、相對濕(shi)度65±20%rh、額定電壓、無(wu)試樣(yang)時。
※2 箱內溫度是+20℃。
※3 不(bu)包括突(tu)(tu)出部(bu)分。[ ]內的尺(chi)寸包括突(tu)(tu)出部(bu)分。
※4 該(gai)升(sheng)降溫(wen)速率為去掉總(zong)溫(wen)度區間的(de)(de)(de)前后(hou)10%的(de)(de)(de)升(sheng)降溫(wen)速率的(de)(de)(de)值。





產品&規范

廠商名稱

高溫(wen)

低溫(wen)

溫變率

循環數

循環
時間

備注(zhu)

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電(dian)子產品(pin)應力(li)篩(shai)選(xuan)


 

工作(zuo)極(ji)限(xian)溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min


 

MIL-344A-4-16
電子設備環(huan)境應(ying)力篩(shai)選(xuan)

設備或系(xi)統

71℃

-54℃

5℃/min

10


 


 

MIL-2164A-19
電子設備環境應力篩選


 

工作(zuo)極限溫(wen)度(du)

工作極限(xian)溫度(du)

10℃/min

10


 

駐留時間為內部(bu)達到指定(ding)溫度10℃時

NABMAT-9492
 美(mei)軍(jun)海(hai)軍(jun)制(zhi)造(zao)篩(shai)選(xuan)

設備(bei)或系(xi)統

55℃

-53℃

15℃/min

10


 

駐(zhu)留(liu)時(shi)間為內部達到指定溫度5℃時(shi)

GJB/Z34-5.1.6
電子產(chan)品定量環(huan)境(jing)應力篩選

組(zu)件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25


 

達到溫(wen)度穩定的時間(jian)

GJB/Z34-5.1.6
電(dian)子產(chan)品定量環境應力篩選

設備或系統

70℃

-55℃

5℃/min

≧10


 

達(da)到(dao)溫(wen)度穩定的時間

筆記型計(ji)算機

主機板廠(chang)商

85℃

-40℃

15℃/min


 


 


 



 

溫(wen)度循環試(shi)驗箱(xiang)◎RAMP試(shi)驗溫(wen)變率(lv)列表
溫度循(xun)環試驗(yan)箱(xiang)◎RAMP試驗(yan)條件列表(biao)

溫度循環試驗箱適用相關規范對照表

 

快速溫(wen)度變化試驗(yan)箱(xiang),快速溫(wen)度循環試驗(yan)箱(xiang),環境(jing)應力篩選試驗(yan)箱(xiang)

 

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