廣(guang)東宏展科技有限(xian)公司
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Lab Companion 快(kuai)速溫度循環試驗箱 Fast Temperature Cycle Test Chamber
快溫變應力篩選(xuan)試驗箱是產品在設計強度極限下,運用(yong)溫度(du)加速技巧(qiao)(在(zai)(zai)上、下限極值溫度內進行循環(huan)時,產(chan)(chan)品產(chan)(chan)生交(jiao)替膨脹和收(shou)縮(suo))改變外在(zai)(zai)環(huan)境(jing)(jing)應(ying)力(li)(li),使(shi)(shi)產(chan)(chan)品中(zhong)(zhong)產(chan)(chan)生熱應(ying)力(li)(li)和應(ying)變,透過加速應(ying)力(li)(li)來(lai)使(shi)(shi)潛存于(yu)產(chan)(chan)品的瑕(xia)疵浮現[潛在(zai)(zai)零件材料(liao)瑕(xia)疵、制程(cheng)(cheng)瑕(xia)疵、工(gong)藝瑕(xia)疵],以避免該(gai)產(chan)(chan)品于(yu)使(shi)(shi)用過程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong),受到環(huan)境(jing)(jing)應(ying)力(li)(li)的考驗時而(er)導(dao)致(zhi)失(shi)效,造成不必要的損失(shi),對于(yu)提高產(chan)(chan)品出貨良(liang)率與降低返修次數有顯著(zhu)的效果,另(ling)外應(ying)力(li)(li)篩本身是(shi)一種(zhong)制程(cheng)(cheng)階段(duan)的過程(cheng)(cheng),而(er)不是(shi)一種(zhong)可(ke)靠度試驗,所以應力篩選是100%對產品進(jin)行的程序。
對(dui)應 IEC規(gui)格試(shi)驗和汽車相關規(gui)格試(shi)驗。 能夠實(shi)現在有試樣(yang)情況下,1℃~10℃的(de)斜(xie)率控制 冷輸出節能調溫(wen)調濕控(kong)制系統,雙PID及水蒸氣分壓控(kong)制,技術成熟(shu)、精度(du)(du)極高。可實現高精度(du)(du)的(de)溫(wen)度(du)(du)控(kong)制。 在定值運轉及(ji)程序運轉(斜率控(kong)制)中(zhong) 產品綠色環保、省耗(hao)節能。通過相關接(jie)口(kou)均可進行網絡控制(zhi)及數據(ju)采集。 溫度運轉模式:0℃以下(xia)的運轉的話,基本(ben)可以做到只用冷凍機去達到溫度控制(Dual PID控制 )···加熱器輸出是常OFF。 可模(mo)擬(ni)汽車行走環境后零部件(jian)重復快速溫度變(bian)化 例如:-40℃~+125℃的(de)循環等,評價其耐久性。 對應(ying)汽車零(ling)部件(jian)的(de)各種結露實驗 溫度(du)變化率:5℃/分(fen)以(yi)上(shang)、10℃/分(fen)以(yi)上(shang)、15℃/分(fen)以(yi)上(shang)、20℃/分(fen)以(yi)上(shang)。 根據日(ri)益(yi)增(zeng)多(duo)的(de)半導(dao)體,車載電子(zi)相關電子(zi)元器件檢測需求,增(zeng)加了200L,300L小容量的(de)快溫變試(shi)驗箱(xiang) 新型(xing)號T-200-20,T-300-20,溫(wen)度變化(hua)率:20℃/min,結構緊湊(cou),功能強大。
滿足以下標準 GB/T 10592 -2008 高(gao)低溫試驗(yan)箱(xiang)技術條件 GB/T 10586 -2006 濕(shi)熱試驗(yan)箱技術條件 GB/T 2423.1-2008 電工電子(zi)產品環境試(shi)驗(yan) 第2部(bu)分(fen):試(shi)驗(yan)方法(fa) 試(shi)驗(yan)A:低溫 GB/T 2423.2-2008 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第2部分(fen):試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法(fa) 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)B:高(gao)溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chan)品環境試(shi)驗 第(di)2部分:試(shi)驗方法 試(shi)驗Cab:恒定濕熱(re)試(shi)驗 GB/T 2423.4-2008 電工電子(zi)產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環) GB/T 2423.22-2008 電(dian)工電(dian)子產品(pin)環境試(shi)驗 第2部分:試(shi)驗方法試(shi)驗N:溫(wen)度變化 GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方(fang)法 總則 GJB 150.3A-2009 軍用裝備(bei)實驗(yan)室環境試驗(yan)方(fang)法第(di)3部分:高溫試驗(yan) GJB 150.4A-2009 軍用(yong)裝備(bei)實(shi)驗(yan)室環境試驗(yan)方法(fa)第(di)4部(bu)分(fen):低溫試驗(yan) GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huan)境試(shi)驗方(fang)法(fa)第9部分:濕(shi)熱(re)試(shi)驗
主要技術指標(biao)
※1 溫度箱按(an)照(zhao)GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕(shi)度箱按(an)照(zhao)GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定,環(huan)境溫度+23℃、相對濕(shi)度65±20%rh、額定電壓、無(wu)試樣(yang)時。 ※2 箱內溫度是+20℃。 ※3 不(bu)包括突(tu)(tu)出部(bu)分。[ ]內的尺(chi)寸包括突(tu)(tu)出部(bu)分。 ※4 該(gai)升(sheng)降溫(wen)速率為去掉總(zong)溫(wen)度區間的(de)(de)(de)前后(hou)10%的(de)(de)(de)升(sheng)降溫(wen)速率的(de)(de)(de)值。
產品&規范
廠商名稱
高溫(wen)
低溫(wen)
溫變率
循環數
循環 時間
備注(zhu)
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電(dian)子產品(pin)應力(li)篩(shai)選(xuan)
工作(zuo)極(ji)限(xian)溫度
工作極限溫度
5℃/min
10~12
3h20min
MIL-344A-4-16 電子設備環(huan)境應(ying)力篩(shai)選(xuan)
設備或系(xi)統
71℃
-54℃
10
MIL-2164A-19 電子設備環境應力篩選
工作(zuo)極限溫(wen)度(du)
工作極限(xian)溫度(du)
10℃/min
駐留時間為內部(bu)達到指定(ding)溫度10℃時
NABMAT-9492 美(mei)軍(jun)海(hai)軍(jun)制(zhi)造(zao)篩(shai)選(xuan)
設備(bei)或系(xi)統
55℃
-53℃
15℃/min
駐(zhu)留(liu)時(shi)間為內部達到指定溫度5℃時(shi)
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chan)品定量環(huan)境(jing)應力篩選
組(zu)件
85℃
-55℃
≧25
達到溫(wen)度穩定的時間(jian)
GJB/Z34-5.1.6 電(dian)子產(chan)品定量環境應力篩選
設備或系統
70℃
≧10
達(da)到(dao)溫(wen)度穩定的時間
筆記型計(ji)算機
主機板廠(chang)商
-40℃
溫度循環試驗箱◎適用相關規范對照表
快速溫(wen)度變化試驗(yan)箱(xiang),快速溫(wen)度循環試驗(yan)箱(xiang),環境(jing)應力篩選試驗(yan)箱(xiang)