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Lab Companion 快速溫度(du)循環試驗箱(xiang) Fast Temperature Cycle Test Chamber
快溫變應(ying)力篩(shai)選試(shi)驗箱是產品(pin)在設計強度極限(xian)下,運用溫度加速(su)(su)技巧(在上、下(xia)限極值(zhi)溫度內(nei)進行循環(huan)(huan)時,產(chan)品產(chan)生(sheng)交(jiao)替膨(peng)脹和收縮(suo))改變(bian)外在環(huan)(huan)境應(ying)力(li)(li)(li),使產(chan)品中產(chan)生(sheng)熱應(ying)力(li)(li)(li)和應(ying)變(bian),透過(guo)加速(su)(su)應(ying)力(li)(li)(li)來使潛存于(yu)產(chan)品的瑕(xia)(xia)疵浮現[潛在零件材料瑕(xia)(xia)疵、制(zhi)程瑕(xia)(xia)疵、工藝瑕(xia)(xia)疵],以避免該產(chan)品于(yu)使用過(guo)程中,受(shou)到環(huan)(huan)境應(ying)力(li)(li)(li)的考(kao)驗(yan)時而導致(zhi)失效,造成不(bu)必要的損失,對于(yu)提高產(chan)品出貨良率與降(jiang)低返修次數有(you)顯著的效果,另外應(ying)力(li)(li)(li)篩(shai)本身是一種制(zhi)程階段的過(guo)程,而不(bu)是一種可(ke)靠度試驗,所以應力篩選是100%對產品進行的程序。
對應 IEC規格試(shi)驗(yan)和(he)汽車相關規格試(shi)驗(yan)。 能(neng)夠實現(xian)在有(you)試樣(yang)情(qing)況下,1℃~10℃的斜率(lv)控制 冷輸(shu)出節(jie)能調溫調濕控制系統,雙PID及水(shui)蒸氣(qi)分壓控制,技術成(cheng)熟、精度(du)極高。可實現高精度(du)的溫度(du)控制。 在定值運轉(zhuan)及(ji)程序運轉(zhuan)(斜率控制)中 產品綠(lv)色(se)環(huan)保(bao)、省耗節能(neng)。通過(guo)相關接口均可進行網絡控制(zhi)及數據采集。 溫度運轉模(mo)式:0℃以(yi)(yi)下的運轉的話,基本可以(yi)(yi)做到(dao)只用冷凍(dong)機去達到(dao)溫度控制(zhi)(Dual PID控制(zhi) )···加(jia)熱器輸出是常OFF。 可模擬汽車(che)行走環境(jing)后零(ling)部(bu)件重復快速溫度變化 例如:-40℃~+125℃的循環(huan)等,評價其耐(nai)久(jiu)性。 對應汽車零(ling)部件的各種結露(lu)實(shi)驗 溫度變化率:5℃/分以(yi)上、10℃/分以(yi)上、15℃/分以(yi)上、20℃/分以(yi)上。 根據(ju)日益增(zeng)多的(de)半導體(ti),車載(zai)電子相(xiang)關電子元器件檢(jian)測需求,增(zeng)加了200L,300L小容量(liang)的(de)快(kuai)溫變(bian)試(shi)驗箱 新型(xing)號T-200-20,T-300-20,溫度變化率:20℃/min,結構緊湊,功能(neng)強大。
滿足以下標準 GB/T 10592 -2008 高低溫試(shi)驗箱(xiang)技術條件 GB/T 10586 -2006 濕熱試(shi)驗(yan)箱技(ji)術條件 GB/T 2423.1-2008 電工(gong)電子產品(pin)環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T 2423.2-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試驗(yan) 第2部(bu)分:試驗(yan)方法 試驗(yan)B:高溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環境試(shi)(shi)(shi)驗(yan) 第2部分(fen):試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法 試(shi)(shi)(shi)驗(yan)Cab:恒定(ding)濕熱試(shi)(shi)(shi)驗(yan) GB/T 2423.4-2008 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試驗(yan)(yan) 第2部分:試驗(yan)(yan)方(fang)法 試驗(yan)(yan)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huan)) GB/T 2423.22-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗(yan) 第(di)2部分:試驗(yan)方法試驗(yan)N:溫(wen)度變化 GB/T 5170.1-2008 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子(zi)產(chan)品環境(jing)試驗(yan)設(she)備檢驗(yan)方法(fa) 總則(ze) GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環境試(shi)驗方法第3部分:高(gao)溫試(shi)驗 GJB 150.4A-2009 軍用(yong)裝備實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)環境試驗(yan)(yan)方法(fa)第4部(bu)分:低溫試驗(yan)(yan) GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗(yan)室環境試(shi)驗(yan)方法第9部分:濕熱試(shi)驗(yan)
主(zhu)要技術指標
※1 溫度(du)箱按照GB/T5170.2,IEC60068-3-5及濕度(du)箱按照GB/T5170.5,IEC60068-3-6的規定,環(huan)境溫度(du)+23℃、相對濕度(du)65±20%rh、額定電壓、無試樣(yang)時。 ※2 箱內溫度是+20℃。 ※3 不包括(kuo)突出(chu)部分(fen)。[ ]內的尺寸包括(kuo)突出(chu)部分(fen)。 ※4 該升降(jiang)溫(wen)速率為(wei)去掉總溫(wen)度區(qu)間(jian)的(de)前后10%的(de)升降(jiang)溫(wen)速率的(de)值。
產(chan)品&規范
廠商名稱(cheng)
高溫
低(di)溫(wen)
溫變(bian)率
循環(huan)數
循環 時間
備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電(dian)子(zi)產品應力篩選
工作極限溫度
5℃/min
10~12
3h20min
MIL-344A-4-16 電子設備環(huan)境應力篩(shai)選(xuan)
設(she)備或系統
71℃
-54℃
10
MIL-2164A-19 電子(zi)設備環(huan)境(jing)應力篩(shai)選
工作極限溫度(du)
工作(zuo)極限溫度(du)
10℃/min
駐(zhu)留(liu)時間為內部達(da)到指定(ding)溫度10℃時
NABMAT-9492 美軍海(hai)軍制造篩選
設備或系統
55℃
-53℃
15℃/min
駐留時(shi)間為內部(bu)達到指定溫度5℃時(shi)
GJB/Z34-5.1.6 電(dian)子產品定量環境應力篩選(xuan)
組件
85℃
-55℃
≧25
達到(dao)溫度穩定的時(shi)間
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環境應力篩(shai)選
設備(bei)或系統
70℃
≧10
達(da)到溫(wen)度穩定的(de)時間
筆記(ji)型計算機
主機板廠商(shang)
-40℃
溫度循環試驗箱◎適用相關規范對照表
快速溫度變化試(shi)驗(yan)箱(xiang),快速溫度循環試(shi)驗(yan)箱(xiang),環境應(ying)力(li)篩選試(shi)驗(yan)箱(xiang)