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產品資料

冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

如果您(nin)對(dui)該產(chan)品感興趣的話(hua),可以
產品名稱: 冷熱沖擊(ji)試(shi)驗(yan)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber
產品型號: TS系列
產品展商: 其他(ta)品牌
產品文檔: 無相關文(wen)檔(dang)

簡單介紹

TS系列冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備規格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性；冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber


冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber  的詳細介紹

TS系列冷熱沖(chong)擊(ji)試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber



*冷熱沖擊試驗箱(xiang) Hot And Cold Shock Test Chamber設備特點(dian)
規格(ge)系列齊全 –提(ti)籃式(shi)、三(san)(san)廂(xiang)式(shi)、水(shui)平(ping)移動三(san)(san)種(zhong)沖擊模式(shi)可(ke)供(gong)用(yong)(yong)戶選擇(ze)，充分滿足不(bu)同用(yong)(yong)戶的各(ge)種(zhong)要求(qiu)；
設(she)備還可(ke)提供(gong)標準高(gao)低溫試(shi)驗功(gong)能，實現了溫度沖擊和(he)高(gao)低溫試(shi)驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結構設(she)計(ji)- 確保(bao)了設(she)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不(bu)銹(xiu)鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲(pi)勞功能(neng)強(qiang)，使用壽命長；
高密度聚氨酯發泡絕熱材料(liao)- 確保將熱量散失減小；
表面噴(pen)塑處(chu)理- 保證設備(bei)的持久(jiu)防腐功(gong)能和外觀壽(shou)命(ming)；
高強度(du)耐溫硅橡膠密(mi)封(feng)條 – 確保了設備大門的高密(mi)封(feng)性；
多種可(ke)選功(gong)(gong)能(neng)（測(ce)試孔、記錄儀、測(ce)試電纜等）保證了用戶多種功(gong)(gong)能(neng)和測(ce)試的需要；
大(da)面(mian)積電熱防(fang)霜觀察(cha)窗(chuang)、內藏式(shi)照明 –可以提供(gong)良好的觀察(cha)效果；
環保(bao)型制冷劑(ji) –確保(bao)設備更(geng)加符合您的環境保(bao)護要(yao)求；

*冷熱沖擊試驗箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可(ke)根據(ju)用戶要求定制(zhi)尺寸/定制(zhi)使用指標/定制(zhi)各(ge)種選配功(gong)能(neng)

*溫度(du)控制
可實現溫度定值控(kong)制和(he)程序控(kong)制；
全程數據記錄(lu)(lu)儀（可選功能(neng)）可以實現(xian)試驗過程的全程記錄(lu)(lu)和追溯；
 每臺電機均配置過流(liu)（過熱）保(bao)(bao)護/加熱器設置短(duan)路保(bao)(bao)護，確保(bao)(bao)了設備運行期間的(de)風量及加熱的(de)高可靠性；
USB接口、以(yi)太網(wang)通(tong)訊功(gong)能，使(shi)得(de)設(she)備的(de)通(tong)訊和軟件擴展功(gong)能滿足(zu)客戶的(de)多(duo)種需要；
采(cai)用(yong)流行(xing)的制冷(leng)控制模式，可以0%~100%自動調節壓(ya)縮機制冷(leng)功率，較傳統的加熱(re)平衡(heng)控溫模式耗能減少(shao)30%；
制(zhi)冷(leng)及電控(kong)關(guan)鍵配(pei)件均(jun)采用，使設備的整體質量得到了提升(sheng)和(he)保證(zheng)；

*冷熱(re)沖擊試驗(yan)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低(di)溫試(shi)驗(yan)箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品(pin)環境(jing)試驗(yan) 第2部分：試驗(yan)方法試驗(yan)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工(gong)電子(zi)產品環境試驗(yan) 第2部分(fen)：試驗(yan)方法試驗(yan)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗(yan)設備檢驗(yan)方(fang)法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝(zhuang)備(bei)實驗室環境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huan)境試驗方法 第4部分(fen)：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍(jun)用裝備實(shi)驗室(shi)環境試(shi)(shi)驗方(fang)法 第5部(bu)分：溫度(du)沖擊(ji)試(shi)(shi)驗
GJB 360B-2009 電子及(ji)電氣元件試驗方法(fa) 方法(fa)107 溫度沖擊試驗


主(zhu)要技(ji)術(shu)指標:

型號

單位

TS-60

TS-120

TS-120P

TS-300

TS-300P

測試(shi)空間(jian)容積

L

60

120

120

300

300

移動(dong)提籃最(zui)大負載

Kg

20

50

50

100

100

實驗空間尺寸，高（H）×寬（W）×深（D）

mm

370x380x430

410x470x650

410x470x650

610x770x650

610x770x650

熱(re)箱溫度范(fan)圍(wei)

℃

+50 至 +220

+50 至(zhi) +220

+50 至 +220

+50 至(zhi) +220

+50 至 +220

冷箱溫度范圍

℃

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

熱(re)箱升(sheng)溫速率

K/min

17

14

18

11

23

冷箱(xiang)降溫速率1

K/min

3.7

6.3

7.5

5.0

12.0

冷箱升溫速率，單箱操(cao)作(zuo)1

K/min

3.7

2.0

2.0

1.5

1.5

溫度波動(dong)度2

K

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

溫度均勻(yun)性3

K

±0.5 至±2.0

±0.5 至(zhi)±2.0

±1.0至±2.0

±0.5 至±2.0

±1.0至±2.0

熱(re)/冷箱轉換時間

sec

＜10

＜10

＜10

＜10

＜10

恢復時(shi)間-溫度變化測試

min

＜154

＜155

＜126

＜157

＜158

熱箱校(xiao)準值9

℃

+125

+125

+125

+125

+125

冷(leng)箱(xiang)校準值(zhi)9

℃

-40

-40

-40

-40

-40

1根(gen)據IEC 60068-3-5.通過選擇提升/降低熱箱/冷箱(xiang)溫度(du)來(lai)提(ti)高溫度(du)變化速率.

2有效測(ce)試(shi)空間(jian)中心(xin)點(dian)。

3基于設置點(dian):溫度范圍-65℃ to +200℃

4MIL-STD-883E，方法 1010.9，強度級 D，4.5 kglCs 分布(bu)于2個樣品架(jia)內，樣品內測(ce)量.

5MIL-STD-883J，方法(fa) 1010.9，強度級 D，12 kglCs 分布(bu)于3個樣品(pin)(pin)架內(nei)，樣品(pin)(pin)內(nei)測量.

6MIL-STD-883F，方法1010.9，強(qiang)度級 D，20 kgCs 分布(bu)于3個樣品(pin)架(jia)內(nei)(nei)，樣品(pin)內(nei)(nei)測量.

7MIL-STD-883J，方法 1010.9，強度級 F，25 kg lCs 分(fen)布于3個樣品架內(nei)，樣品內(nei)測量.

8MIL-STD-883 F，方(fang)法 1010.9，強(qiang)度級 F，50 kglCs 分(fen)布于3個樣(yang)品架(jia)內，樣(yang)品內測量.

9出廠計(ji)量.



 冷熱沖(chong)擊試驗(yan)箱(xiang) Hot And Cold Shock Test Chamber

---- 不符合此規格◎符合此規格★可配增加此(ci)功能※可配(pei)增加LN2功(gong)能
試(shi)驗規(gui)范(fan)
 駐(zhu)留(liu)溫度(℃)
(exposure temp.)
駐留溫度(du)時間(jian)(Min)
(exposure time)
覆歸時間
(recovery time)
 周期(qi)
或次數
試驗起
始(shi)點(dian)
備注
適用機臺型(xing)號(hao)
TS-(80/150/225/408)
高溫
室溫
低溫
高溫(wen)/低溫
室溫
S
U
L
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)
+85
+10
----
-55
0
≧10min
≦15min
----
含駐留時間(jian)&
轉換(huan)時間≦15min
*少
10次
低溫或
高溫
Temperature Cycling
(轉(zhuan)換時間<1min)

實驗過(guo)程若中斷
超過總實(shi)驗(yan)之(zhi)1/10
次則實驗須重(zhong)做
◎
◎
----
0
+125
+15
◎
◎
----
0
-10
+150
+15
◎
◎
----
0
+150
+15
-65
0
◎
.
----
0
-10
MIL-STD-202F
(Method No.107G)
+83
+3
-25
+10
-55
0
28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
Max.
5 Min
5 Min 以內
5 cycle
25
50
100
低(di)溫(wen)
Transfer time
不(bu)超過5 min
◎
◎
◎
0
-3
+125
+3
-65
0
◎
◎
----
0
-5
-5
+125
+3
-65
0
◎
◎
----
0
-5
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22
+70
+85
+100
+125
±2
±2
±2
±2
室溫(wen)
-5
-10
-25
-40
-55
-65
±3
±3
±3
±3
±3
±3
3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
以(yi)3hr定義
手(shou)動轉
移時間
2～3Min
為駐留時間
之(zhi)1/10
5 cycle
除非有
其(qi)它(ta)規(gui)格
低溫
Auto
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超(chao)過10 sec
★
★
★
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
----
IPC 2.6.7
+70
±2
----
0
+0
15 Min
----
2 Min 以內
100 cycle
高溫
(試(shi)驗結束(shu)
點(dian)在(zai)高溫(wen))
Transfer time
不超過2 min
★
★
★
-0
-5
+85
+5
-40
+0
◎
◎
◎
-0
-5
+105
+5
-55
+0
◎
◎
．
-0
-5
+105
+5
-65
+0
．
．
----
-0
-5
+105
+5
．
．
----
-0
IPC 2.6.6
+85
+3
-25
+10
-55
+0
30 Min
10-15
Min
5 cycle
◎
◎
◎
-0
-5
+125
+3
-5
-65
+0
◎
◎
----
-0
-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70
±2
----
≧10min
≦15min
----
含駐留時(shi)間
&轉換時間≦15min
500 cycle
OR
1000cycle
◎
◎
◎
+80
±2
◎
◎
◎
JESD22
A104-A
+125
+10
-40
+0
≦15min
含駐留時間(jian)
&轉換時間(jian)≦15min
抽10次
可接受;
1000次(ci)
合(he)格(ge)
Temperature
Cycling
(轉(zhuan)換時間<1min)
實驗過(guo)程(cheng)若(ruo)中斷
超(chao)過(guo)總實(shi)驗之1/10
次則實驗須(xu)重做
◎
◎
◎
-0
-10
+85
+10
-55
+0
◎
◎
．
-0
+125
+10
-0
-10
+150
+10
-0
+150
+10
-65
+0
◎
．
----
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