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產品資料

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

如果您對該產品感興趣的話,可(ke)以
產品名稱: 高低(di)溫沖擊試驗(yan)箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
產品型號:
產品展商: 其他品牌(pai)
產品文檔: 無相關文(wen)檔

簡單介紹

高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber  的詳細介紹

高(gao)低溫沖擊試驗箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低溫沖擊試驗箱(xiang) High And Low Temperature Shock Test Chamber簡介：本試(shi)驗(yan)(yan)箱適用于考核(he)產品（整機）、元器件、零部件等(deng)經受溫(wen)(wen)度急劇變(bian)(bian)化(hua)的(de)(de)(de)(de)能力，該溫(wen)(wen)度沖擊試(shi)驗(yan)(yan)能夠了解試(shi)驗(yan)(yan)樣品一次(ci)(ci)或連續多(duo)次(ci)(ci)因(yin)溫(wen)(wen)度變(bian)(bian)化(hua)而帶來(lai)的(de)(de)(de)(de)影響。影響溫(wen)(wen)度變(bian)(bian)化(hua)試(shi)驗(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)主(zhu)要參數(shu)為溫(wen)(wen)度變(bian)(bian)化(hua)范圍的(de)(de)(de)(de)高(gao)溫(wen)(wen)和低溫(wen)(wen)溫(wen)(wen)度值、樣品在(zai)高(gao)溫(wen)(wen)和低溫(wen)(wen)下的(de)(de)(de)(de)保持時間(jian)、以及試(shi)驗(yan)(yan)的(de)(de)(de)(de)循環次(ci)(ci)數(shu)等(deng)因(yin)素。

高(gao)低(di)溫(wen)沖(chong)擊試驗箱(xiang) High And Low Temperature Shock Test Chamber技術(shu)參數

型號
TS 60
 TS 120
 TS 120 P
 TS 300
 TS 300 P
測試空間容積
 l
 60
 120
 120
 300
 300
移(yi)動提籃最大(da)負載
 kg
 20
 50
 50
 100
 100

試(shi)驗空間尺寸：

 高（H）x寬（W）x深（D） m

mm
370x380x430
 410x470x650
 410x470x650
 610x770x650 
 610x770x650
熱箱溫度范(fan)圍
 °C
 +50 至 +220
 +50 至(zhi) +220
 +50 至 +220
 +50 至 +220
 +50 至 +220
冷(leng)箱(xiang)溫(wen)度范圍
 °C
 –80 至 +70
 –80 至 +70
 –80 至 +70
 –80 至 +70
 –80 至 +70
熱箱升溫(wen)速率(lv)①
 K/min
 17.0
 14.0
 18.0
 11.0
 23.0
冷(leng)箱降溫速率①
 K/min
 3.7
 6.3
 7.5
 5.0
 12.0 
冷(leng)箱升溫速率,單(dan)箱操(cao)作①
 K/min
 3.2
 2.0
 2.0
 1.5
 1.5
溫(wen)度波動度②
 K
 ±0.3 至 ±1.0
 ±0.3 至 ±1.0
 ±0.3 至 ±1.0
 ±0.3 至 ±1.0
 ±0.3 至 ±1.0
溫度均勻性③
 K
 ±0.5 至 ±2.0
 ±0.5 至 ±2.0
 ±0.5 至 ±2.0
 ±0.5 至 ±2.0
 ±0.5 至 ±2.0
熱/冷箱轉換時(shi)間
 sec
 <10
 <10 <10
 <10
 <10
恢復(fu)時間(jian)–溫度變(bian)化測試(shi)
 min
 <15④
 <15⑤ 
 <12⑥
 <15⑦
 <15⑧
熱箱(xiang)校準值⑨
 °C
 +125
 +125
 +125
 +125
 +125
冷箱校(xiao)準值⑨
 °C
 –40
 –40
 –40
 –40
 –40

① 根據IEC 60068-3-5。通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化(hua)速率(lv)。

②有(you)效測試空間(jian)中(zhong)心(xin)點。 

③基于(yu)設(she)置(zhi)點；溫(wen)度范(fan)圍 –65 °C to +200 °C。 

④MIL-STD-883 E，方法 1010.9，強度級 D ，4.5 kg ICs 分(fen)布于2個(ge)樣(yang)品架內，樣(yang)品內測量(liang)。 

⑤MIL-STD-883 J，方法(fa) 1010.9，強度級 D，12 kg ICs 分布于(yu)3個樣(yang)品架內(nei)，樣(yang)品內(nei)測量。 

⑥MIL-STD-883 F，方(fang)法(fa) 1010.9，強(qiang)度(du)級 D，20 kg ICs 分(fen)布于3個樣品(pin)架內，樣品(pin)內測(ce)量。 

⑦ MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強度(du)級 F，25 kg ICs 分布于3個樣品(pin)架內，樣品(pin)內測量。 

⑧ MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強度(du)級 F，50 kg ICs 分布于3個樣品(pin)架(jia)內(nei)，樣品(pin)內(nei)測(ce)量。 

⑨出(chu)廠計量。



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